X射線(xiàn)鍍層測厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)及應用范圍

       X射線(xiàn)鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上的。強度的衰減將主要是由于材料對樣品的吸收，以及從樣品中反射的第二X射線(xiàn)的強度。測量了涂層等金屬膜的厚度。因為有樣品和X射線(xiàn)輻照對樣品無(wú)接觸只有45-75w，所以不會(huì )造成樣品損傷。同時(shí)，測量也可以在10到幾分鐘內完成。
　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀的特征：
　　1、可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
　　2、CCD攝像機可以觀(guān)察和選擇小面積測量涂層的厚度，避免直接接觸或破壞被測物體。
　　3、擁有鍍層厚度測量和成分分析等250多個(gè)標準樣品。
　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀X射線(xiàn)熒光的物理意義：
　　X射線(xiàn)是電磁波譜中的某特定波長(cháng)范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長(cháng)（單位：鈉米，nm）描述。X射線(xiàn)熒光是原子內產(chǎn)生變化所致的現象。一個(gè)穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著(zhù)原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
　　當具有高能量的入射（一次）X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì )打破原子結構的穩定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來(lái)，電子的逐放會(huì )導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會(huì )躍遷到該低能量電子殼層來(lái)補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著(zhù)能量差距，這些能量上的差以二次X射線(xiàn)的形式釋放出來(lái)，不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性。儀器通過(guò)探測不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性，進(jìn)行分析計算得到各鍍層厚度，這一個(gè)過(guò)程就是我們所說(shuō)的X射線(xiàn)鍍層測厚儀。