選擇XRF元素分析儀時(shí)應該考慮的3個(gè)重要指標

天瑞儀器XRF元素分析儀能夠應對各種鍍層厚度和材料分析挑戰。它將大面積正比計數探測器和微聚焦X射線(xiàn)管相結合，可實(shí)現同類(lèi)產(chǎn)品中的較佳準確度。標準的基座配置是開(kāi)槽樣品臺，可完成從小型零部件到大型扁平印刷電路板（即使其超出儀表本身寬度）等各種樣品的測量。加深樣品臺主要適用于較高樣品，而程控樣品臺則能自動(dòng)完成測量。即使無(wú)人監管操作，程控樣品臺仍能實(shí)現較高的樣品處理量。各種選裝配置能確保用戶(hù)在達到目標規格的同時(shí)能降低成本并減少耗時(shí)的過(guò)量鍍層和返工。所有操作人員往往擔憂(yōu)該如何正確裝載并定位樣品。一旦將樣品妥善放置，本品在數秒內便會(huì )顯示結果，而且操作人員可以自由繼續進(jìn)行下一項任務(wù)。選裝這些配置，配合根據可溯源標準優(yōu)化的校準性能，您可*信任天瑞儀器XRF元素分析儀生成的結果。
    今天，我們主要介紹選擇天瑞儀器XRF元素分析儀時(shí)應該考慮的3個(gè)重要指標：
    一、檢出限
    有的XRF商家稱(chēng)檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br為1PPM。很多XRF商家使用儀器的檢出限來(lái)迷惑客戶(hù)，宣稱(chēng)他們的儀器檢出限很低，能*你的需要。儀器檢出限是三倍儀器噪音的值，在實(shí)際使用中沒(méi)有多大的意義。其實(shí)客戶(hù)關(guān)心的是方法檢出限，有現實(shí)意義的是方法檢出限，也就是說(shuō)在滿(mǎn)足其它質(zhì)控要求的條件下，實(shí)驗所用的方法能從樣品中檢出目標物的小濃度。所以以后XRF商家說(shuō)他們的儀器檢出限有多么低的時(shí)候，你可以問(wèn)下他們的方法檢出限是多少。因為大家都知道在實(shí)際檢出中，都存在基體干擾的，如果分辨率不好，雖然儀器檢出限很低，但到具體檢測一個(gè)樣品的時(shí)候，方法檢出限可能會(huì )使儀器檢查限的幾倍甚幾十倍。
    二、儀器的精度
    一般XRF的精度都比較差，因為他屬于篩選型的儀器，精度要好，除了儀器本身的原因以外，還同做標準曲線(xiàn)有很大關(guān)系。如果單說(shuō)儀器的精度有多好，個(gè)人認為也是很不科學(xué)的。
    三、儀器的穩定性
    有的XRF商家說(shuō)他們的儀器穩定性有多好，你就要看是短時(shí)間的穩定性還是長(cháng)時(shí)間的穩定性了。
    短時(shí)間的儀器穩定性也是沒(méi)什么意義的，一般以8小時(shí)長(cháng)時(shí)間的儀器穩定性為標準。8小時(shí)穩定性<1%的儀器穩定性應該是不錯的。