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為什么要對熒光鍍層測厚儀進(jìn)行不確定度分析?

 更新時(shí)間:2019-08-27 點(diǎn)擊量:1068

熒光鍍層測厚儀可同時(shí)測量磁性基材表面的非磁性涂層(如鋼鐵)(如油漆、陶瓷、鉻等)和非磁性金屬基材表面的非導電涂層(如油漆等)。儀器內置高精度集成探頭,可通過(guò)電磁感應和渦流效應自動(dòng)檢測襯底性能和鍍層厚度,并可通過(guò)晶格液晶快速顯示結果。同時(shí),測量數據可以成組保存,統計數據可以實(shí)時(shí)顯示。用戶(hù)可為每組設置上、下報警值、零位校準和多點(diǎn)校準。全新多點(diǎn)校準和零點(diǎn)校準,使您隨時(shí)進(jìn)行校準非常方便。標準化菜單,確保您可以輕松使用它們。但是,由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差,為確保測量結果的準確可靠,有必要對其進(jìn)行不確定度分析。

一、測量環(huán)境引入的誤差

測量環(huán)境引入的測量誤差主要包括以下幾方面:

1、圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)

2、環(huán)境溫度

3、環(huán)境濕度

上述因素我們可以采取措施盡量避免,比如:盡可能避免在強磁場(chǎng)環(huán)境下測量;在常溫常濕環(huán)境下即可滿(mǎn)足測量條件,因此這些誤差忽略不計,不予分析。

二、測量對象引入的誤差

測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面:

1、覆蓋層厚度的影響

2、基體金屬磁性的影響

3、基體金屬厚度的影響

4、材料的邊緣效應的影響

5、基體金屬機械加工方向的影響

6、基體金屬剩磁的影響

7、基體金屬曲率的影響

8、基體金屬表面粗糙度的影響

對上述因素產(chǎn)生的測量誤差分析如下:

1、對于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準確測量覆蓋層厚度,尤其是當覆蓋層厚度小于5μm的情況;對于較厚的覆蓋層,其測量結果相對誤差近似為一常數,誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后,其磁特性均有較大差異,而材料的磁特性差異會(huì )直接影響對磁鐵或檢測線(xiàn)圈的磁作用,為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響,應采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對儀器校準。

3、由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內與基體厚度密切相關(guān),當基體厚度達到某臨界厚度時(shí),這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí),應通過(guò)化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層,利用試樣基體對儀器校準。

4、儀器對試樣表面的不連續敏感,太靠近試樣邊緣或內轉角處測量時(shí),磁場(chǎng)將會(huì )發(fā)生變化,測量結果將不可靠。因此,不要在靠近不連續的部位如邊緣、孔洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

5、金屬機械加工方向對材料的磁特性會(huì )產(chǎn)生較大影響,當使用雙極式測頭或被磨損而不平整的單極式測頭測量時(shí),測量結果會(huì )受到磁性基體金屬機械加工(如軋制)方向的影響。因此,在試樣上測量時(shí)應使測頭的方向與在校準時(shí)該測頭所取方向一致。

6、金屬材料由于磨削等加工方式可能帶來(lái)剩磁,影響儀器測量,試樣測量前應進(jìn)行消磁處理,并在互為180°的兩個(gè)方向上進(jìn)行測量。

7、基體金屬曲率的變化將影響測量結果,曲率半徑越小,對測量結果的影響越大。當測量曲率較小的試樣時(shí),應通過(guò)化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層,利用試樣的無(wú)膜部分作為基體對儀器校準。

8、基體金屬表面粗糙度將影響測量結果,粗糙度程度增加,對測量結果的影響增大。應對試樣基體多個(gè)位置進(jìn)行零點(diǎn)校正,并在試樣不同位置上進(jìn)行多次測量,測量次數少應增加到5次或以上,以減小影響。

三、儀器設備儀器設備引入的誤差

儀器設備引入的測量誤差主要包括以下幾方面:

1、器測量示值誤差

2、儀器測量小分辨率

3、儀器使用的校準片

四、測量方法引入的誤差

測量方法引入的測量誤差主要包括以下幾方面:

1、料表面附著(zhù)外來(lái)物質(zhì)

2、測頭取向

對上述因素產(chǎn)生的測量誤差分析如下:

1、儀器測頭必須與試樣表面緊密接觸,當試樣表面存在外來(lái)物質(zhì),如灰塵、油脂和腐蝕產(chǎn)物等,將影響測量結果,應盡量去除,保持試樣表面清潔。同時(shí),在測量時(shí),還應避開(kāi)難以除去的缺陷。

2、考慮到地球重力場(chǎng)的影響,磁吸力原理的測厚儀測量結果會(huì )受磁體取向的影響,當在水平或倒置位置上采用磁吸力原理的測厚儀測量時(shí),若測量裝置沒(méi)有在重心處得到支撐,應分別在水平或倒置位置上對儀器校準。

以上這些因素均由儀器本身測量精度產(chǎn)生,不可避免,因此,需要對天瑞儀器鍍層測厚儀引入的誤差進(jìn)行測量不確定度評定。

 

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