X射線(xiàn)熒光光譜儀的產(chǎn)品原理有哪些?
X射線(xiàn)熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡(jiǎn)稱(chēng):XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線(xiàn)熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線(xiàn)。這種現象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學(xué),法醫學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫(huà)和壁畫(huà)。
X射線(xiàn)熒光光譜儀 (XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生發(fā)射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素都會(huì )放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。 元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn),根據莫斯萊定律,熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)λ與元素的原子序數Z有關(guān),其數學(xué)關(guān)系如下:λ=K(Z− s)−2(K和S是常數)。根據量子理論,X射線(xiàn)可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個(gè)光具有的能量為:E=hν=h C/λ(E為X射線(xiàn)光子的能量,單位為keV;h為普朗克常數;ν為光波的頻率;C為光速)。因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據此,可以進(jìn)行元素定量分析。