手持式光譜儀的基本效應介紹

  在手持式光譜儀的測量過(guò)程中，實(shí)際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統稱(chēng)為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的(這個(gè)變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化)，它直接影響待測元素特征X射線(xiàn)強度的測量。換句話(huà)說(shuō)，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線(xiàn)強度 是不同的，這就是基體效應?；w效應是X射線(xiàn)熒光定量分析的主要誤差來(lái)源之一。
    基體效應是個(gè)無(wú)法避免的客觀(guān)事實(shí)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線(xiàn)強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的 射線(xiàn)和待測元素特征X射線(xiàn)產(chǎn)生光電效應的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線(xiàn)和待 測元素的特征X射線(xiàn)的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線(xiàn)和待測元素的特征X射線(xiàn)康普頓散射幾率比重元素大得多。
1. 放射源放出的射線(xiàn)激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線(xiàn)AK線(xiàn)稱(chēng)為光電效應。手持式合金分析儀價(jià)格
2.AKX線(xiàn)在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線(xiàn)CK而A元素特征X射線(xiàn)強度減小了，稱(chēng)為吸收效應。
3.放射源激發(fā)了B元素，BKX線(xiàn)又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線(xiàn)計數增加，稱(chēng)為增強效應，又稱(chēng)為二次熒光。