X射線(xiàn)鍍層測厚儀使用的必要性

　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀有著(zhù)快速，準確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節約有著(zhù)廣泛的應用。
 

　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀的物理意義：
 

　　X射線(xiàn)是電磁波譜中的某特定波長(cháng)范圍內的電磁波，其特性通常用能量(單位：千電子伏特，keV)和波長(cháng)(單位：鈉米，nm)描述。X射線(xiàn)熒光是原子內產(chǎn)生變化所致的現象。一個(gè)穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著(zhù)原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
 

　　當具有高能量的入射(一次)X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì )打破原子結構的穩定性。處于低能量電子殼層(如：K層)的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來(lái)，電子的逐放會(huì )導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子(如：L層)會(huì )躍遷到該低能量電子殼層來(lái)補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著(zhù)能量差距，這些能量上的差以二次X射線(xiàn)的形式釋放出來(lái)，不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性。儀器通過(guò)探測不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性，進(jìn)行分析計算得到各鍍層厚度，這一個(gè)過(guò)程就是我們所說(shuō)的X射線(xiàn)鍍層測厚儀。