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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
天瑞儀器X射線(xiàn)熒光光譜儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)XRF)是一種可以對多種元素進(jìn)行快速、非破壞性測定的儀器,其工作原理可表述為:待測樣品受X射線(xiàn)照射后,其中各元素原子的內殼層(K、L或M殼層)電子被激發(fā)逐出原子而引起殼外電子躍遷,并發(fā)射出該元素的特征X射線(xiàn)(熒光);通過(guò)測定特征X射線(xiàn)的波長(cháng)(或能量)和強度,即可進(jìn)行待測元素的定性和定量分析的光譜分析儀器。
波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀(WD-XRF),是用晶體分光而后由探測器接收經(jīng)過(guò)衍射的特征X射線(xiàn)信號。如果分光晶體和控測器作同步運動(dòng),不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內各種元素所產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)的波長(cháng)及各個(gè)波長(cháng)X射線(xiàn)的強度,可以據此進(jìn)行定性和定量分析。該儀器產(chǎn)生于50年代,由于可以對復雜體系進(jìn)行多組分同時(shí)測定,受到觀(guān)注,特別在地質(zhì)部門(mén),先后配置了這種儀器,分析速度顯著(zhù)提高,起了重要作用。
隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的,在60年代初發(fā)明了半導體探測器以后,對X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線(xiàn)管產(chǎn)生原級X射線(xiàn)照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)(熒光)直接進(jìn)入半導體探測器,便可以據此進(jìn)行定性分析和定量分析。
由于普通能量色散X熒光采用低功率X射線(xiàn)管,又采用濾光片扣除背景和干擾,其背景偏高,分辨率偏小,使得應用范圍受到限制,特別是在輕元素的分析受到限制。隨之X射線(xiàn)偏振器的誕生,產(chǎn)生了一款新型的能量色散X熒光光譜儀,既偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF,再加上SDD探測器的使用,不僅提高了(相對使用正比計數管和Si(PIN)探測器的儀器)的分辨率,免去Si(Li)探測器使用液氮冷卻的繁瑣和危險,彌補了原來(lái)普通能量色散X熒光的輕元素檢出限高,分辨率差的缺陷,又使得(相對波長(cháng)色散X熒光用戶(hù))購買(mǎi)和使用X熒光儀器的成本大大減低,這使得偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF在分析領(lǐng)域的迅猛發(fā)展,越來(lái)越受到廣泛關(guān)注。
138-0228-4651
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