XRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜分析儀介紹

EDXRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?？?strong style="margin: 0px; padding: 0px;">測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過(guò)智能激發(fā)和檢測設計實(shí)現高靈敏度，用戶(hù)可自定義多曲線(xiàn)多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場(chǎng)合。

應用領(lǐng)域

EDXRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜分析儀EDX1800B應用于RoHS檢測分析。

采用的是X射線(xiàn)熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。

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融合經(jīng)驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。

經(jīng)驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類(lèi)型相近，校正模型簡(jiǎn)單。

基本參數法（FP法）：儀器根據實(shí)際檢測物質(zhì)，通過(guò)對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質(zhì)檢測。

 

進(jìn)口硬件

1	美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
2	美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
3	美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
4	美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
5	美國進(jìn)口A(yíng)D轉換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好