鍍層測厚儀的測試原理

工作原理

鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

臺式的熒光X射線(xiàn)膜厚測試儀，是通過(guò)一次X射線(xiàn)穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，,在通過(guò)計算二次熒光的能量來(lái)計算厚度值。

應用

X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì )反射其穩定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們設計出：膜厚測試儀也可稱(chēng)為膜厚測量?jì)x，又稱(chēng)金屬涂鍍層厚度測量?jì)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環(huán)保工藝準則，故市場(chǎng)上較普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀。