X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線(xiàn)），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。
技術(shù)原理
受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn)，根據莫斯萊定律，熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)λ與元素的原子序數Z有關(guān)，其數學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數。
而根據量子理論，X射線(xiàn)可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線(xiàn)光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。
因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據此，可以進(jìn)行元素定量分析。
主要用途
X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線(xiàn)的強度，可以 測定元素含量。
近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應用得最多也較為廣泛。
大多數分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
優(yōu)缺點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn)
（a）分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
（b）X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。
（c）非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
（d）X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
（e）分析精密度高。含量測定已經(jīng)達到ppm級別。
（f）制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
（a） 定量分析需要標樣。
（b）對輕元素的靈敏度要低一些。
（c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。
分類(lèi)
X熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型：波長(cháng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X熒光的波粒二象性中波長(cháng)特征為原理的稱(chēng)為波長(cháng)色散型，以能量特征為原理的稱(chēng)為能量色散型。
地址：江蘇省昆山市玉山鎮中華園西路1888號
郵箱：rohsxrf@126.com
傳真：
聯(lián)系人：劉先生