X射線(xiàn)鍍層測厚儀使用依據了哪些原理？

　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀的工作原理：

　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀是通過(guò)X射線(xiàn)激發(fā)各種物質(zhì)(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線(xiàn)，然后測量這被釋放出來(lái)的特征X射線(xiàn)的能量對樣品進(jìn)行進(jìn)行定性，測量這被釋放出來(lái)的特征X射線(xiàn)的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質(zhì)的厚度，這種強度和厚度的對應關(guān)系在軟件后臺形成曲線(xiàn)。而各種物質(zhì)的強度增加，厚度值也增加，但不是直線(xiàn)關(guān)系；通過(guò)標樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗系數法)得到一個(gè)接近實(shí)際對應關(guān)系的曲線(xiàn)。

　　X射線(xiàn)鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上的。強度的衰減將主要是由于材料對樣品的吸收，以及從樣品中反射的第二X射線(xiàn)的強度。測量了涂層等金屬膜的厚度。因為有樣品和X射線(xiàn)輻照對樣品無(wú)接觸只有45-75w，所以不會(huì )造成樣品損傷。同時(shí)，測量也可以在10到幾分鐘內完成。

　　以上就是X射線(xiàn)鍍層測厚儀的工作原理，希望能幫助大家更好地了解X射線(xiàn)鍍層測厚儀。