X熒光光譜儀EDX1800B

 X熒光光譜儀EDX1800B能用于測定周期表中多達83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和X射線(xiàn)發(fā)生激烈作用的樣品都能分析，而要分析的樣品必須經(jīng)受在真空(4~5Pa)環(huán)境下測定，與其他分析技術(shù)相比，XRF具有分析速度快，穩定性和精密度好以及動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。 

 X熒光光譜儀EDX1800B工作原理 
　　X-熒光光譜儀有兩種類(lèi)型：一種是波長(cháng)色散型(WDX)，一種是能量色散型(EDX)，在WDX中，熒光光譜通過(guò)色散元件(如晶體)被分離成不連續的波段，然后用氣體正比計數器或閃爍計數器檢測，其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器，及輔助裝置如初級濾光片等。 
　　SDD探測器X熒光儀共有2個(gè)探測器，即流氣正比計數器和閃爍計數器，裝在探測器架上，可程控切換.掃描式X射線(xiàn)熒光儀安裝的是具有很大測定靈活性的測角儀，只要配備了必要的分析晶體就能按序分析周期表上多達83個(gè)元素。 
　　X射線(xiàn)熒光光譜儀的基本原理 
　　被測試樣進(jìn)入光譜儀后，受到來(lái)自X光管發(fā)出的X射線(xiàn)光束激發(fā)，產(chǎn)生X熒光，X射線(xiàn)熒光是指用X射線(xiàn)管或其它合適的輻射源照射物質(zhì)時(shí)，使組成物質(zhì)的原子產(chǎn)生具有特征性的一種次級X射線(xiàn)，X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素(Rh銠)的特征譜和連續譜(或稱(chēng)白色輻射)所組成，來(lái)自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光，這種混合光被引入測角儀所組成的色散系統分光，分光后所得的譜線(xiàn)和被測樣品中存在的元素有關(guān)。 

EDX1800B

rohs2.0檢測儀性能參數

專(zhuān)門(mén)應對rohs2.0、鹵素等環(huán)保指令的檢測

集成FP法、Alpha系數法、經(jīng)驗系數法，多種數據處理方式，能更*的應對非常規產(chǎn)品的檢測

可生成各種人性化的檢測報告

軟硬結合的防輻射設計，使儀器操作人員更安全

操作簡(jiǎn)便、一鍵式操作設計

智能軟件自動(dòng)設定參數和濾光片

快速無(wú)損分析樣品

多種語(yǔ)言的操作系統

超溫保護、超載保護

無(wú)需耗材

rohs2.0檢測儀EDX1800B技術(shù)規格

探測器：美國Amptek Si-PIN探測器，高速脈沖分析系統

高壓電源：美國Spellman 50w（50kv/MA）

X射線(xiàn)管：50w側窗鈹窗型X射線(xiàn)管

能量分辨率：160ev

元素分析范圍：硫（S）-鈾（U）

測量時(shí)間：60－300S

測量含量范圍：ppm-99.9%

電源：220V 建議配備1000W交流穩壓電源

工作溫度：15-30°C

測量條件：大氣環(huán)境

rohs2.0檢測儀EDX1800B標準配置

美國Amptek Si-PIN探測器

美國Amptek 信號檢測電子電路

美國spellman 高壓電源

側窗鈹窗型X光管

品牌計算機（聯(lián)想）和品牌激光打印機（佳能）

可安裝三套獨立軟件（環(huán)保rohs、鍍層分析、全元素成分檢測），真正做到一機多

rohs2.0檢測儀EDX1800B應用領(lǐng)域

電子電器、五金沖壓、包裝塑料等各類(lèi)產(chǎn)品的rohs2.0、無(wú)鹵檢測