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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
描述:材料無(wú)鹵ROHS檢測儀測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體探測器:SDD硅漂移探測器,良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
材料無(wú)鹵ROHS檢測儀_江蘇天瑞儀器股份有限公司
目前對于不同的電子材料,元件,板材等,業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來(lái)執行?,F在有兩種講法對于無(wú)鹵素,1.BSEN14582測試方法,這種根本測不出(<50ppm)的CI,Br;2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒(méi)有對總含量定義。有些公司定義的測試方法及測試樣品的選取都有不同,樣品數量太少的話(huà),導致測試結果會(huì )有很大偏差。也有分產(chǎn)品中含有的鹵素是刻意添加(配方中的成分)及非刻意添加(雜質(zhì))?這些具體的要求,目前法規還沒(méi)有明確定義,都是由各個(gè)廠(chǎng)家自己要求確定。
材料無(wú)鹵ROHS檢測儀各標準組織的測試方法如下,
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法(Ion chromatography) 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
傳統只是對鹵化物有定義要求,采用鉻酸銀試紙,氟點(diǎn)測試等方法檢測只是對鹵化物的離子進(jìn)行定性的測試方法,如果要定量的話(huà)還得用離子層析法(Ion chromatography)。
無(wú)鹵素與無(wú)鹵化物不是一個(gè)概念,鹵化物是以游離的鹵素離子存在,而鹵素則可以共價(jià)的方式形成含有鹵素的化合物,并且用離子層析法(Ion chromatography)是測不到游離的鹵素離子存在的。所以,目前的鹵素測試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測樣品共價(jià)存在的鹵素破壞原先的結構,使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素,可以被離子層析法(Ion chromatography) 檢測到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測到。
以上為鹵素標準推薦采用的測試方法;目前rohs測試主要是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測試方法,及XRF在rohs中的作用,并且注明了XRF測試結果如何判定是否符合標準,目前電子電器行業(yè)對于Cl,Br的測試是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的,判斷其結果是否符合標準也是按照此文件內的30%的偏差來(lái)判斷的。
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統
高信噪比電子線(xiàn)路單元
內置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
自動(dòng)穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
整體鋼架結構,力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
性能參數
產(chǎn)品型號:EDX 4500
產(chǎn)品名稱(chēng):X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間:60秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管,指標達到水平
新的數字多道技術(shù),讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線(xiàn)激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動(dòng)穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線(xiàn)路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線(xiàn)性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
138-0228-4651
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