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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
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描述:天瑞儀器X熒光光譜測厚儀 分析范圍:同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm鍍層厚度:一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同)重復性:可達0.1%同時(shí)檢測元素:多24個(gè)元素,多達五層鍍層準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
天瑞儀器X熒光光譜測厚儀 項 目 參 數
測量元素范圍 Cl(17)-U(92)
涂鍍層分析范圍 P(15)-U(92)可區分檢測電鍍鎳和化學(xué)鎳
分析軟件 EFP,可同時(shí)分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件,自動(dòng)提示校正和步驟,避免操作錯誤
X射線(xiàn)裝置 W靶微聚焦加強型射線(xiàn)管
準直器 ? 0.05 mm ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;四準直器自動(dòng)切換
近測距光斑擴散度 10%
測量距離 具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀(guān)察 1/2.5彩色CCD,變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭,手動(dòng)對焦
放大倍數 光學(xué)38-46X,數字放大40-200倍
天瑞儀器X熒光光譜測厚儀樣品臺尺寸 500mm*360mm
移動(dòng)方式 高精密XY手動(dòng)滑軌
可移動(dòng)范圍 50mm*50mm
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
廠(chǎng)家介紹
X熒光測厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠(chǎng)家——江蘇天瑞儀器股份有限公司,新款Thick 8000X熒光測厚儀是專(zhuān)門(mén)針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱(chēng)X射線(xiàn)熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度;應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
138-0228-4651
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