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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
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描述:電鍍層膜厚分析儀THICK800A,天瑞儀器 X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
電鍍層膜厚分析儀THICK800A,天瑞儀器根據測量原理一般有以下五種類(lèi)型:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低
3.超聲波測厚法:目前國內還沒(méi)有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個(gè)別廠(chǎng)家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無(wú)法測量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴測量精度也不高.
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來(lái)較其他幾種麻煩
5.放射測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合.
鍍層測厚儀覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱(chēng)重法,X射線(xiàn)熒光法,β射線(xiàn)反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。鍍層測厚儀這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
電鍍層膜厚分析儀THICK800A,天瑞儀器 采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。
Thick800A
1、儀器概述
鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標,關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗,專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器,配備移動(dòng)平臺,可全自動(dòng)軟件操作,并進(jìn)行多點(diǎn)測試,檢測結果更加精準。
2、性能優(yōu)勢
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標可控制移動(dòng)平臺,鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
3、技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層
一次可同時(shí)分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
長(cháng)期工作穩定性高
度適應范圍為15℃30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
138-0228-4651
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