X熒光膜厚儀_天瑞儀器

X熒光膜厚儀_天瑞儀器 

 廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線(xiàn)框架、汽車(chē)零部件、半導體、電子產(chǎn)品、五金工具等企業(yè)中，打破了國外（例如：德國Fischer）壟斷局面，在電鍍行業(yè)占有 一定地位，為企業(yè)提供有效解決方案。

X熒光膜厚儀_天瑞儀器 性能優(yōu)勢

置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求

【國產(chǎn)X熒光膜厚儀技術(shù)參數】
長(cháng)期工作穩定性高，故障率低。
多變量非線(xiàn)性回收程序
相互獨立的基體效應校正模型薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
度適應范圍為15℃30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層（鍍金、鍍錫、鍍鋅等）
一次可同時(shí)分析多達五層鍍層，快速、準確。
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
【X熒光膜厚儀檢測實(shí)例】
銅鍍鎳樣品

X熒光膜厚儀測試譜圖

樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um) 
吊扣 100 19.321 
吊扣2# 100 19.665 
吊扣3# 100 18.846 
吊扣4# 100 19.302 
吊扣5# 100 18.971 
吊扣6# 100 19.031 
吊扣7# 100 19.146 
平均值 100 19.18314 
標準偏差 0 0.273409 
相對標準偏差 0 1.425257 
國產(chǎn)X熒光膜厚儀銅鍍鎳件測試結果