天瑞鍍層厚度檢測儀Thick800A,天瑞儀器

  天瑞鍍層厚度檢測儀Thick800A,天瑞儀器 

采用了天瑞儀器新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無(wú)鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
Thick800A產(chǎn)品指標：
測厚技術(shù)：X射線(xiàn)熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類(lèi)：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時(shí)：30-120秒
探測器類(lèi)型：Si-PIN電制冷   
探測器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀(guān)察：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：?0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開(kāi)放工作區 自定義
樣品腔：70*20mm
整機重量：38kg

  天瑞鍍層厚度檢測儀Thick800A,天瑞儀器 鍍層測厚方法：
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線(xiàn)熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時(shí)可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語(yǔ)“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁，  1um=0.04mil