天瑞x熒光測厚儀器

天瑞x熒光測厚儀器具有以下優(yōu)點(diǎn)：
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進(jìn)口上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類(lèi)的其他產(chǎn)品更低。
無(wú)損：測試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。
直觀(guān)：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀(guān)顯示元素含量。

天瑞x熒光測厚儀器測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿(mǎn)足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線(xiàn)制作方法靈活多樣，方便滿(mǎn)足不同客戶(hù)不同樣品的測試需要。
性?xún)r(jià)比高：相比化學(xué)分析類(lèi)儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠(chǎng)家接受。
對人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護簡(jiǎn)單方便，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
軟件圖片：
 
技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長(cháng)期工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
配置
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用：
，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；
銀行，飾銷(xiāo)售和檢測機構；
電鍍行業(yè)。