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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
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描述:國產(chǎn)ICP2060T光譜分析儀,天瑞儀器 可用于地質(zhì)、冶金、稀土及磁材料、環(huán)境、醫藥衛生、生物、海洋、石油、化工新型材料、核工業(yè)、農業(yè)、食品商檢、水質(zhì)等各領(lǐng)域及學(xué)科的樣品分析??梢钥焖?、準確地檢測從微量到常量約70種元素。國產(chǎn)ICP元素光譜分析儀技術(shù)指標參照國家標準《 JJG 768-2005 發(fā)射光譜儀檢定規程》執行。
國產(chǎn)ICP2060T光譜分析儀,天瑞儀器 技術(shù)指標:
固態(tài)射頻發(fā)生器,水冷,功率范圍750W-1600W。
帶有自動(dòng)匹配功能。
一鍵自動(dòng)點(diǎn)火,帶有檢查氣路以及報錯功能。
光室帶有恒溫系統,32±0.1℃。
等離子火焰可以前后、上下移動(dòng),進(jìn)行觀(guān)測位置優(yōu)化。
詳細參數如下表:
光柵刻線(xiàn) 光柵:2400刻線(xiàn) 光柵:3600刻線(xiàn) 光柵:4320刻線(xiàn)
波長(cháng) 范圍 190nm-800nm 190nm-500nm 190nm-420nm
示值誤差 ±0.03nm ±0.03nm ±0.03nm
重復性 ≦0.005nm ≦0.005nm ≦0.005nm
小光譜帶寬 Mn 257.610nm半高寬≦0.030nm Mn 257.610nm半高寬≦0.015nm Mn 257.610nm半高寬≦0.007nm
檢出限/(μg/L) Zn(213.856nm)≦ 0.003Ni(231.604nm)≦ 0.010Mn(257.610nm)≦ 0.002Cr(267.716nm)≦ 0.007Cu(324.754nm)≦ 0.007Ba(455.403nm)≦ 0.001 Zn(213.856nm)≦ 0.003Ni(231.604nm)≦ 0.010Mn(257.610nm)≦ 0.002Cr(267.716nm)≦ 0.007Cu(324.754nm)≦ 0.007Ba(455.403nm)≦ 0.001 Zn(213.856nm)≦ 0.003Ni(231.604nm)≦ 0.010Mn(257.610nm)≦ 0.002Cr(267.716nm)≦ 0.007Cu(324.754nm)≦ 0.007
重復性 3號溶液 RSD≤1.5% 3號溶液 RSD≤1.5(%) 3號溶液 RSD≤1.5(%))
穩定性 3號溶液 RSD≤2% 3號溶液 RSD≤2% 3號溶液 RSD≤2%
國產(chǎn)ICP2060T光譜分析儀,天瑞儀器工作環(huán)境要求
不要將儀器直接安裝在窗戶(hù)邊或者門(mén)邊,避免對流、灰塵、腐蝕性氣體及振動(dòng)。
請遠離強電磁場(chǎng)干擾。
環(huán)境溫度:20~25℃。
工作濕度:≤ 70%。
儀器應放置在平穩的工作臺上,無(wú)振動(dòng),儀器上方應有排風(fēng)系統,儀器附近應無(wú)強光直射及強
烈電磁場(chǎng)干擾,環(huán)境中應無(wú)強烈腐蝕性氣體。
性能描述:
廠(chǎng)家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀,ROHS分析儀,ROHS檢測儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS測量?jì)x,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS檢測儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。
138-0228-4651
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