EDX4500 X熒光光譜儀

EDX4500 X熒光光譜儀 性能參數
產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性）
測量時(shí)間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

EDX4500 X熒光光譜儀 性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標達到水平
新的數字多道技術(shù)，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線(xiàn)激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動(dòng)穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線(xiàn)路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術(shù)
信噪比增強器 SNE
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統
高信噪比電子線(xiàn)路單元
內置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
自動(dòng)穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵