EDX4500 X熒光光譜儀,天瑞儀器

 EDX4500 X熒光光譜儀,天瑞儀器 技術(shù)參數

1、 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。

2、 分析含量一般為1ppm到99.9％。

3、 有害元素檢出限比普通的臺式X熒光光譜儀有極大的提高。

4、 多次測量重復性可達0.1％。

5、 長(cháng)期工作穩定性為0.1％。

6、 溫度適應范圍為15℃30℃。

7、 電源。交流220V±5V。建議配置交流凈化穩壓電源。

 
 EDX4500 X熒光光譜儀,天瑞儀器主要特點(diǎn)

1. 采用天瑞 ――*的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結構和探測系統，大大提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限)；

2. 具有現代化的外觀(guān)，結構和色彩，上蓋電動(dòng)控制開(kāi)關(guān)，更人性化；

3. 準直器，濾光片自動(dòng)切換，可適應不同的樣品測試要求；

4. 大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；

5.配備功能齊全的測試軟件。
性能參數
產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱(chēng)：XRF熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標達到水平
新的數字多道技術(shù)，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線(xiàn)激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動(dòng)穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線(xiàn)路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統
高信噪比電子線(xiàn)路單元
內置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
自動(dòng)穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應用領(lǐng)域
鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）