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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
描述:考古陶瓷檢測儀器EDX3600L 是以X射線(xiàn)照射到樣品表面,利用能譜儀測定各種元素的特征X射線(xiàn)光子的能量和強度,以此來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡(jiǎn)單,分析速度快,測量元素范圍廣,配合適當的標準參考物可得到較好的準確度,對樣品表面基本無(wú)損傷,如果在儀器定制時(shí)加裝真空大樣品室,就可以進(jìn)行大器物的無(wú)損測試了。綜合這些優(yōu)點(diǎn),可以認為它是目前進(jìn)行古陶瓷無(wú)損鑒定比較好的一種方法。
考古陶瓷檢測儀器EDX3600L是以X射線(xiàn)照射到樣品表面,利用能譜儀測定各種元素的特征X射線(xiàn)光子的能量和強度,以此來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡(jiǎn)單,分析速度快,測量元素范圍廣,配合適當的標準參考物可得到較好的準確度,對樣品表面基本無(wú)損傷,如果在儀器定制時(shí)加裝真空大樣品室,就可以進(jìn)行大器物的無(wú)損測試了。綜合這些優(yōu)點(diǎn),可以認為它是目前進(jìn)行古陶瓷無(wú)損鑒定比較好的一種方法。
陶瓷器的鑒定曾經(jīng)一度受到不可采樣的限制,僅對一些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作,一些造假者甚利用射線(xiàn)源對新燒的仿制品進(jìn)行輻照處理,以期對熱釋光的檢測造成假象,干擾測試結果的結論。自打八十年代以來(lái),大樣品室的X射線(xiàn)熒光能譜儀問(wèn)世,瓷器的釉表面成分原位無(wú)損檢測既成事實(shí),為瓷器的真偽判別引入了一種全新的方法。近一兩年,由于河南汝窯遺址的發(fā)現,文物市場(chǎng)上一時(shí)間汝窯瓷器泛濫,各種形制、顏色的汝窯器著(zhù)實(shí)讓人眼花繚亂。在使用X射線(xiàn)熒光能譜儀對其瓷釉表面成分進(jìn)行無(wú)損分析的過(guò)程中粗略統計了一下,民間收藏的待測品九成以上都是假貨,其中大多數瓷釉成分中含有現代瓷釉制造的添加劑,而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現的成分,用能譜儀檢測此類(lèi)器物可謂是輕而易舉、手到擒來(lái)。我們知道絕大多數瓷釉的基本組分是由十種元素即:鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成,不同時(shí)代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區別的,正因如此,我們可對大量經(jīng)科學(xué)考古發(fā)掘的有確定年代和出土地點(diǎn)依據的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數值分布范圍,將受鑒定樣品的成分配比與相應時(shí)代的參考片成分進(jìn)行比對,據此判斷被檢樣品在成分構成上的可靠性,實(shí)踐證明,當前文物市場(chǎng)中周轉的陶瓷器文物,有半數以上成分配比與古瓷片有較大差距,另有相當一部分含有古代瓷器瓷釉中所沒(méi)有的組成成分,如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現代瓷釉添加劑,對于這類(lèi)贗品瓷器,通過(guò)成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。
三、解決方案
考古陶瓷檢測儀器EDX3600L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門(mén)提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣,一次性同時(shí)分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量,再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時(shí),為了更好的利用X熒光分析儀器的無(wú)損測量特性,我公司特意根據行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔,以滿(mǎn)足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)的EDX3600L系列的儀器是一款專(zhuān)門(mén)針對于古文物檢測而量身定做的無(wú)損測量的能量色散X熒光分析儀器,其技術(shù)參數如下:
測量元素范圍:從鈉(Na)鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素:同時(shí)可以分析30種以上元素
測量鍍層:鍍層厚度測量薄0.01微米
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
測量時(shí)間:30s—200s
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
輸入電壓:AC 110V/220V
消耗功率:200W
環(huán)境溫度: 15-26℃
相對濕度: ≤70%
標準配置
超薄窗大面積的*Fast SDD探測器
數字多道系統
可自動(dòng)切換型準直器和濾光片
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡(jiǎn)單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線(xiàn)性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式
外觀(guān)尺寸: 800×710×1360 mm
樣品腔尺寸:600×600×800mm
重量:280kg
應用領(lǐng)域
古陶瓷
古青銅器
古飾
鍍層測厚
我公司研制生產(chǎn)的EDX3600L型的儀器,利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門(mén)提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣,一次性同時(shí)分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量,再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時(shí)為了更好的利用X熒光分析儀器的無(wú)損測量特性,我公司特意根據行業(yè)需要制作超大型的抽真空樣品腔,以滿(mǎn)足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
138-0228-4651
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