X熒光光譜儀_ 天瑞儀器

X熒光光譜儀_ 天瑞儀器 

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線(xiàn)
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專(zhuān)業(yè)化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時(shí)達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數字多道技術(shù)，其線(xiàn)性計數率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數率，大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專(zhuān)業(yè)軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡(jiǎn)易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。

5. 強大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開(kāi)蓋、自動(dòng)切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統
自主研發(fā)的光路系統，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動(dòng)感應，沒(méi)有樣品時(shí)儀器不工作，無(wú)射線(xiàn)泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全警示系統
警告指示系統，通電時(shí)綠色指示燈亮，測試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

X熒光光譜儀_ 天瑞儀器 儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統
可自動(dòng)開(kāi)啟的測試蓋
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術(shù)
多變量非線(xiàn)性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術(shù)參數

型號：EDX3600K
X射線(xiàn)源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時(shí)分析元素達三十多種，可根據客戶(hù)需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時(shí)間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據客戶(hù)需求可供選擇
測井環(huán)境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來(lái)說(shuō)，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術(shù)，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動(dòng)旋轉式
保護系統：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開(kāi)時(shí)測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)
數字多道技術(shù)：計數率>50kcps，有效計數率高500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，操作簡(jiǎn)易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛