X熒光光譜儀

X熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器，隨著(zhù)半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類(lèi)分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機械電子學(xué)結構、實(shí)驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動(dòng)化的結構，并向智能化、小型化、在線(xiàn)式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式技術(shù)為基礎，結合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權的EDX 3600K型。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過(guò)了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測，并通過(guò)中國儀器儀表學(xué)會(huì )分析儀器分會(huì )組織的科技成果鑒定，技術(shù)達到水平。

應用領(lǐng)域

專(zhuān)為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監測、有色金屬、食品、農業(yè)等科研院所、大專(zhuān)院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線(xiàn)
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專(zhuān)業(yè)化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時(shí)達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數字多道技術(shù)，其線(xiàn)性計數率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數率，大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專(zhuān)業(yè)軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡(jiǎn)易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。

5. 強大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開(kāi)蓋、自動(dòng)切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統
自主研發(fā)的光路系統，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動(dòng)感應，沒(méi)有樣品時(shí)儀器不工作，無(wú)射線(xiàn)泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全警示系統
警告指示系統，通電時(shí)綠色指示燈亮，測試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統
可自動(dòng)開(kāi)啟的測試蓋
自動(dòng)切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術(shù)
多變量非線(xiàn)性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術(shù)參數

型號：EDX3600K
X射線(xiàn)源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時(shí)分析元素達三十多種，可根據客戶(hù)需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時(shí)間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據客戶(hù)需求可供選擇
測井環(huán)境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來(lái)說(shuō)，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術(shù)，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動(dòng)旋轉式
保護系統：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開(kāi)時(shí)測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)
數字多道技術(shù)：計數率>50kcps，有效計數率高500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，操作簡(jiǎn)易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測試模式設置和無(wú)限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。
 

定性與定量分析

              （一）、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎，因為只有從儀器獲得的譜圖中辨認峰譜，才能知道待測試樣中還有那些元素，并且分析待測元素的主要譜線(xiàn)，以及常見(jiàn)的干擾譜線(xiàn)，以便選擇合適的測量譜線(xiàn)，用于定量分析方法，確定譜線(xiàn)的重疊校正方法，選擇校正元素，終達到準確測試樣品的效果。
定性分析的方法：
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確，可以用已知元素的樣品進(jìn)行測試，觀(guān)察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確，需要重新建立能量刻度。
2、 先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜，可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線(xiàn)和L線(xiàn)，一般情況下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多測試其K線(xiàn)，但35?！?2#之間的元素，其L線(xiàn)也可以被檢測出來(lái)，同時(shí)它的L線(xiàn)會(huì )對輕元素測量產(chǎn)生影響。52＃以后的元素一般測試其L線(xiàn)。
4、 K線(xiàn)一般有K線(xiàn)必然有K線(xiàn)，線(xiàn)的強度比例在5:1左右，L線(xiàn)必然有L、L…等4條線(xiàn)，在判斷是否是某元素時(shí)必須考慮這一因素。
5、 觀(guān)察各個(gè)線(xiàn)之間的干擾，找到干擾的元素線(xiàn)系，并確定重疊干擾線(xiàn)之間的影響程度。
 
（二）、定量分析
              X熒光的定量分析可以簡(jiǎn)化為以下公式，它受四種因素影響：
                                                 Ci＝KiIiMiSi
              式中：C為待測元素的濃度，下標I式待測元素；K為儀器的校正因子；I式測得的待測元素X射線(xiàn)熒光強度，經(jīng)過(guò)背景、譜重疊和死時(shí)間校正后，獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應校正。S與樣品的物理形態(tài)有關(guān)，如試樣的均勻性、厚度、表面結果等，要通過(guò)制樣來(lái)消除。
       根據以上的簡(jiǎn)化公式，可以將定量分析的方法分為以下幾個(gè)步驟：
①     根據樣品的物理形態(tài)和對分析精度與準確度要求，決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后，應了解制樣的誤差主要因素，應該在方法中加以注意。
②     用標準樣品確定的分析條件，如：X射線(xiàn)管的管壓，管流，原級譜濾光片，測量時(shí)間等。
③     確定強度的提取方法。
④     制作工作曲線(xiàn)。
⑤     用標準樣品驗證分析方法的可靠性及分析數據的不確定度。

廠(chǎng)家介紹
 

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