五金鍍層測量?jì)x

五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

    天瑞儀器五金鍍層測量?jì)x是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

    五金鍍層測量?jì)x測量值精度的影響因素

    1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明

    a 基體金屬磁性質(zhì)

    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

    b 基體金屬電性質(zhì)

    基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

    c 基體金屬厚度

    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

    d 邊緣效應

    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

    e 曲率

    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

    f 試件的變形

    測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

    g 表面粗糙度

    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

    g 磁場(chǎng)

    周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

    h 附著(zhù)物質(zhì)

    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

    i 測頭壓力

    測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

    j 測頭的取向

    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

    2．使用儀器時(shí)應當遵守的規定

    a 基體金屬特性

    對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

    對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

    b 基體金屬厚度

    檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。

    c 邊緣效應

    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

    d 曲率

    不應在試件的彎曲表面上測量。

    e 讀數次數

    通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

    f 表面清潔度

    測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

性能特點(diǎn)

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線(xiàn)屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

標準配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

技術(shù)指標

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線(xiàn)性回收程序

度適應范圍為15℃30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

廠(chǎng)家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)X熒光測厚儀，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線(xiàn)測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS分析儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五天瑞ROHS儀，X射線(xiàn)鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷(xiāo)售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售和相關(guān)技術(shù)服務(wù)，是國內在創(chuàng )業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應用于環(huán)境保護與安全（空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測等）、礦產(chǎn)與資源（地質(zhì)、采礦）、商品檢驗甚人體微量元素的檢驗等眾多領(lǐng)域。