XRF熒光光譜儀供應

XRF熒光光譜儀供應

作為一種快速、準無(wú)損的分析技術(shù)——XRF熒光光譜儀得到了廣泛的應用。為了了解當前XRF的使用范圍和新領(lǐng)域的增長(cháng)潛力，我們請一些專(zhuān)家對于XRF的重要的應用領(lǐng)域、以及面臨的挑戰、與其他技術(shù)的競爭優(yōu)勢等問(wèn)題進(jìn)行了評論。

　　XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應用不斷在增長(cháng)，“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF，”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如，使用便攜XRF系統配合井下采礦和能源勘探，以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。“由于電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品，以于不適于現場(chǎng)分析，但XRF*可以，特別是小型化的儀器。”

　　芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達了同樣的意見(jiàn)，“便攜性和現場(chǎng)易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢，”并稱(chēng)XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應用，而且該方法具有非常出色的穩定性和易用性。“與質(zhì)譜(MS)方法相比，XRF有很多優(yōu)勢，其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品，”她說(shuō)到。“需要重點(diǎn)記住的一件事是，火星上有XRF，而沒(méi)有ICP-MS。”

　　華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen，從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出，XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。“傳統XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應用中具有ppm級水平，”但是，她指出，對于ppb級的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要樣品量不受限制、消解又很簡(jiǎn)單。對于有限的樣本，微觀(guān)分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇。“對于ppt水平的檢測，需要ICP-MS，”她補充道。

　　幾個(gè)專(zhuān)家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過(guò)程中的應用，“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大學(xué)教授Jun Kawai說(shuō)，“一臺有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測量40個(gè)元素。”

　　XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應用不只是用于質(zhì)量控制，CTL集團的*科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無(wú)標分析的XRF增強了制造工廠(chǎng)迅速評估替代材料和配方的能力，以及不同制造過(guò)程的副產(chǎn)品，”他說(shuō)。“更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用，會(huì )加快帶來(lái)一個(gè)綠色的未來(lái)。”

　　維也納大學(xué)教授Christina Streli表示，“未來(lái)，XRF在文物、環(huán)境、醫學(xué)和其他領(lǐng)域的應用價(jià)值，將會(huì )被越來(lái)越多的人看到。”

　　洛薩拉摩斯國家實(shí)驗室的George Havrilla同意這一觀(guān)點(diǎn)，并稱(chēng)，在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價(jià)值。“micro XRF對藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來(lái)新見(jiàn)解，”他說(shuō)。“這些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的，使我們明白，我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當初藝術(shù)家畫(huà)上去時(shí)是不一樣的。”

　　Havrilla還指出，光學(xué)鑷子的進(jìn)展使得用XRF能夠檢測到單個(gè)細胞的“mechanical manipulation”，進(jìn)而使活體細胞內容物的元素成像成為可能，這可以讓我們對生物機制有新的理解。

　　日本筑波國家材料科學(xué)研究所教授、團體*Kenji Sakurai，也看到了XRF進(jìn)行化學(xué)狀態(tài)分析的進(jìn)展，包括X射線(xiàn)吸收精細結構(XAFS)和X射線(xiàn)近邊吸收(XANES) 技術(shù)的XRF檢測在同步加速器中應用取得的重要成就。“我相信，在科學(xué)和許多工程領(lǐng)域XRF化學(xué)狀態(tài)分析將帶來(lái)新的機遇。”

XRF熒光光譜儀供應?產(chǎn)品介紹：

性能特點(diǎn)

下照式：可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足各種測試方式的應用
移動(dòng)平臺：精細的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實(shí)現更高的測試效率

技術(shù)指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
溫度適應范圍為15℃30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀(guān)尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標準配置

移動(dòng)樣品平臺
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

應用領(lǐng)域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測