鍍層測厚儀器采用了什么技術(shù)原理保證其性能優(yōu)異？

　　鍍層測厚儀器采用磁性測厚方法，可無(wú)損傷檢測磁性金屬基體(如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。儀器廣泛地應用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專(zhuān)業(yè)*的儀器。
 

　　鍍層測厚儀的工作原理：
 

　　將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國家和標準中稱(chēng)為覆層(coating))。
 

　　鍍層測厚儀的優(yōu)點(diǎn)介紹：
 

　　1. 測量速度快
 

　　2. 精度高精度，可達到1-2%
 

　　3. 穩定性高
 

　　4. 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法
 

　　5.覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 

　　6.X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。