XRF檢測儀器EDX1800B電制冷Si-PIN探測器：信噪比增強器 下照式：可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測試需求：多種準直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足各種測試方式的應用 精細的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn)：高分辨率探測器：提高分析的準確性

ROHS鍍層光譜分析儀EDX1800B是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。 ROHS鍍層合金光譜分析儀EDX1800B鍍層測厚儀使用高效而實(shí)用的正比計數盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更方便

304不銹鋼檢測儀器EDX1800B標準配置 移動(dòng)樣品平臺 電制冷Si-PIN探測器 信號檢測電子電路 高低壓電源 新型X光管 計算機及噴墨打印機

ROHS檢測儀EDX1800B不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無(wú)損、直觀(guān)及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)的極速探測器技術(shù)（X-SDD）可將測試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX1800B還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統，可實(shí)現圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續測試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動(dòng)樣品平臺讓準確檢測得到保證。

X熒光光譜儀EDX1800B能用于測定周期表中多達83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和X射線(xiàn)發(fā)生激烈作用的樣品都能分析，而要分析的樣品必須經(jīng)受在真空（4~5Pa）環(huán)境下測定，與其他分析技術(shù)相比，XRF具有分析速度快，穩定性和精密度好以及動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。