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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
描述:鍍層測厚儀EDX4500,天瑞儀器 設備的真空測量室能夠通過(guò) X 射線(xiàn)熒光分析 (RFA) 檢測原子序數從Na(11)開(kāi)始的輕元素。由于空氣會(huì )吸收輕元素的熒光X射線(xiàn),因此在大氣環(huán)境中通常無(wú)法使用該方法。因此,該儀器非常適合對要求嚴苛的鍍層厚度進(jìn)行測量和材料分析。
鍍層測厚儀EDX4500,天瑞儀器 特性:
檢出限低、重復精度高,以及測量適用性廣,因此特別適用于研究和開(kāi)發(fā)使用
配備真空測量室和高性能硅漂移探測器,能夠實(shí)現測量,尤其是對輕元素的測試
通過(guò)可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測試
準直器和濾波器可切換,因此可適用于各種材料和測試條件
EDX4500應用:
EDX4500涂層厚度測量
原子序數從Na(11)開(kāi)始的輕元素鍍層,可測量厚度低納米級
鋁鍍層和硅鍍層
鍍層測厚儀EDX4500,天瑞儀器材料分析
測定寶石的真偽與原產(chǎn)地
高分辨率痕量分析
江蘇天瑞儀器股份有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀,ROHS檢測儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS測量?jì)x,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS檢測儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A,GCMS6800,ICP2060T,,ICPMS2000等。
138-0228-4651
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