X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器

X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 介紹
早期，X熒光鍍層測厚儀基本被國外廠(chǎng)家（德國費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶(hù)可以選擇的廠(chǎng)家比較少。天瑞儀器1992年開(kāi)始做光譜儀，是一家專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠(chǎng)家，在X熒光鍍層檢測方面，*打破國外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內置了天瑞研發(fā)的信噪比增強器與數字多道分析器，在測試精度可以與進(jìn)口設備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設備（費希爾，精工，牛津等）PK過(guò)程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測試快捷，可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。

X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線(xiàn)法）。適用標準為：GB/T16921-20053、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005測量標準1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000          金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線(xiàn)光譜方法         2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：1. 高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；3. φ0.2mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊；5. 鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)；6. 高分辨率探頭使分析結果更加精準，微小測試點(diǎn)更；7. X射線(xiàn)鍍層測厚儀廠(chǎng)家優(yōu)勢在于滿(mǎn)足客戶(hù)要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護成本更低。 測試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀(guān)的作用。這里以測試客戶(hù)的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試，其測試位置如圖。