x射線(xiàn)電鍍測厚儀 樣品處理方法簡(jiǎn)單或無(wú)前處理 可快速對樣品做定性分析 對樣品可做半定量或準定量分析 譜線(xiàn)峰背比高,分析靈敏度高 不破壞試樣,無(wú)損分析 試樣形態(tài)多樣化（固體、液體、粉末等） 設備可靠、維修、維護簡(jiǎn)單 便捷、低廉的售后服務(wù)保證 快速：一般測量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。 無(wú)損：物理測量，不改變樣品性質(zhì) 準確：對樣品可以分析 直觀(guān)：直觀(guān)的分析譜圖，元素分布一幕

X射線(xiàn)鍍層厚度分析儀 是一款通用型能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀（EDXRF），專(zhuān)門(mén)用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構；精密度、準確度、檢出限等技術(shù)參數全面超過(guò)國內外同類(lèi)儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無(wú)需拆分，直接測試即可達到的測試效果。