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主營(yíng)產(chǎn)品:光譜儀,X射線(xiàn)鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類(lèi)RODUCT CATEGORY
描述:X熒光金屬鍍層測厚儀 采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。
X熒光金屬鍍層測厚儀
是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn),不同的元素有不同的特征X射線(xiàn);探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后,將其光信號轉變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進(jìn)行處理;計算機的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息,通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。
X熒光金屬鍍層測厚儀能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預處理;分析時(shí)間短,僅為數十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
我公司集中了國內的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)專(zhuān)家及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠科學(xué)研究,總結多年的現場(chǎng)應用實(shí)踐經(jīng)驗,結合中國的特色,開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的THICK-900系列X熒光鍍層測厚儀具有快速、準確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn),廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
THICK800系列X熒光鍍層測厚儀應用領(lǐng)域:
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導體、線(xiàn)路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
1.銅上鍍金單鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測量是工業(yè)中常見(jiàn)的,利用Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀可以獲得很準確
的結果。
熒光厚度與已知厚度樣品結果對比:
鍍層標準厚度(μm) | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
鍍層熒光厚度(μm) | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
2.銅上鍍鎳再鍍金的雙鍍層厚度測量鐵、銅等材料上先鍍鎳再鍍金的厚度測量也是工業(yè)中常見(jiàn)的,見(jiàn)下表:
鎳鍍層標準厚度(μm) | 0.15 | 0.85 | 1.30 | 2.15 | 4.56 | 8.13 | 9.55 |
鎳鍍層熒光厚度(μm) | 0.13 | 0.88 | 1.33 | 2.20 | 4.60 | 8.25 | 9.48 |
金鍍層標準厚度(μm) | 0.23 | 0.45 | 0.75 | 1.15 | 1.22 | 1.53 | 1.65 |
金鍍層熒光厚度(μm) | 0.21 | 0.43 | 0.77 | 1.17 | 1.26 | 1.55 | 1.58 |
3.儀器長(cháng)期穩定性評定
單鍍層Ni/Cu穩定性測定:連續測定20次,計算其標準偏差和相對標準偏差,均能達到很好的效果。
測量 次數 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
Ni(um) | 1.778 | 1.783 | 1.774 | 1.78 | 1.774 | 1.765 | 1.784 | 1.763 | 1.759 | 1.769 |
測量 次數 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 |
Ni(um) | 1.751 | 1.768 | 1.78 | 1.763 | 1.792 | 1.768 | 1.792 | 1.762 | 1.752 | 1.754 |
平均 厚度 | 1.771 | 標準 偏差 | 0.01231 | 相對標 準偏差 | 0.00695 |
138-0228-4651
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